X线投影 测量的起源与发展

                                                                                  冠诚隐形矫正

X 线头影测最 ( cephalometrics ) ,主要是在X 线头颅定位照相所得的影像上确定牙、颌、颅、面的一些标志点，然后根据这些标志描绘出一定的线距和角度，再对这些线距和角度进行测量、比较和分析，以了解牙、颌及颅面软硬组织的结构情况及相互间的关系，从而进一步了解牙颌畸形的深部机制。几十年来，X线头影测扯一直成为口腔正畸、口腔颌面外科、口腔修复等学科在临床诊断、治疗设计及研究工作中的重要手段。

X线头影测最技术可追溯至人类学研究。在人类学研究，中为了使测量值准确，标准统一，当时就使用颅支持器，颅支持器即头颅定位仪的前身。1780 年荷兰解剖学家Camper采用角度测记方法进行颌骨突度的测量研究。而瑞典的解剖学家Retzins将人群进行了直颌型与突颌型的区分。1884年在德国Frankfort的国际人类学会议上，选用外耳道上缘与眶下缘所构成的平面- FH 平面作为头颅测量的标准定位平面，由此奠定X 线头影测量学的基础。

早期的口腔正畸医师们从人类学研究方法中得到启迪。很多学者在他们的病例分析中引入了人类学测最方法，但由千技术的局限，这些测量方法无法显示出颅面深部的结构情况。

1895 年伦琴发现了X射线，随后该发现很快被应用到医学中，继而引入口腔正畸学领域。至20世纪20年代末期，已有许多正畸学者致力千X线侧位像的摄取及其在正畸学中的应用，他们就定位、靶距离以及测量方法等做了一系列的研究。

现在一致公认Broadbent奠定了X线头影测量的定位基础。他首先使用头颅侧面定位X线片进行头影测量，并千1931年发表了著名的论著，提出用定位头颅X线片进行头影测量能准确诊断牙颌畸形的类型，为制订正确的治疗方案提供科学的依据。同年，Hofrath 在德国也发表了该测量技术的文章。他们的工作完善了X线头影测量的定位方法，使其具有科学性，由此开始了X线头影测最在口腔正畸临床和研究工作中的应用。

经过不断地研究探索，X线在颅面生长发育及结构分析的研究工作中得到广泛的 应用。自20世纪40年代中期开始， 至今已有儿十种X线头影测扯分析法，如Downs法、Steiner法、

Tweed法、Rickett法、Wylie法、Reidel法、Bjork法、Holdaway法以及Dipaolo法等。这些分析法首先用千研究正常矜个体的颅面、颌骨、牙矜的结构，以得出各测量方法的正常均值， 而后以正常矜人群测量均值作为正常对照，与异常牙、颌及颅面结构进行比较、分析及诊断之用。由千颅面结构存在着种族差异，因此各国均建立了自己国家种族及不同民族的正常矜

X 线头影测量标准值。此后， X 线头影测最分析得到快速的发展， 成为口腔正畸临床中一种极其重要的检查方法、矫治设计及研究手段。

1958 年丹麦皇家牙科学院首先提出电子计算机X线头影测最方法， 但直到20 世纪70 年代初才开始在美国广泛应用。 X线头影测量的计算机化， 大大提高了X线头影测量的效率及准确性。

20 世纪60年代初，北 京医科大学口腔医学院（现北京大学口腔医学院）在毛燮均教授指

导下，国内 率先将X线头影测量应用千北京地区正常矜人群的牙颌颅面结构研究，并提出了北京地区正常矜头影测扯标准值，作为诊断牙颌畸形的科学依据。在20世纪80年代，成都、西安、上海、哈尔滨等地也同时进行了该方面的研究，建立了不同地区汉族正常矜人群颅、颌、 面、牙、矜等结构的正常均值和标准差。相继又有不同学者对维吾尔族、蒙古族、藏族、朝鲜族、壮族等少数民族正常矜人群进行了X线头影测量研究，建立了相应的正常矜标准。与此同时，电子计算机X线头影测最也开始广泛应用千口腔正畸研究与临床诊断分析。

                                                                                   二、X 线头影 测量的意义

（一）研究颅颌面生长发育

X 线头影测量是研究颅颌面生长发育的重要手段。因为X线头颅照相是严格定位的 ，所以系列的X线头颅定位片具有良好的可比性。通过X线头影测量分析，一方面可研究各年龄阶段个体的颅颌面生长发育（横向研究），另一方面也可研究个体不同时期的颅颌面生长发育情况（纵向研究），从而了解颅颌面生长发育机制、快速生长期、性别间差异以及进行颅颌面生长发育的预测。1941年Brodie使用X线头影测最技术， 对出生后3个月至8岁的儿童颅颌面生长发育进行了纵向研究，所得出的儿童颅颌面生长图迹重叠图，至今仍被广泛应用。

Enlow提出并为大家所推崇的颅颌面生长发育新理论，也是以 X线头影测量作为研究手段。

（二）牙颌颅面蔚形的诊断分析及预后推断

牙、颌、颅面畸形诊断分析的参考标准，是应用X头影测量对正常矜人群颅、颌、 面结构进行分析而得出的各项测最值。参考正常矜人群颅、颌、面软硬组织各部分间的相互关系，通过X线头影测址，分析、比较颅、颌、面畸形的个体，可了解畸形的形成机制、主要性质、部位及程度，判定是骨骼性畸形还是牙性畸形，井对畸形作出正确的诊断、预后。

（三）确定错驼崎形的矫治设计

正常矜关系可存在千各种不同的颅、颌、面骨骼结构关系中，牙齿的位置能在一定的颌面结构下得到稳定。在通过测最分析牙、颌、颅面形成结构及其相互关系后，根据错梒的机制，可确定颌位及牙齿矫治的理想位置，从而制订出正确可行的矫治方案。

（四）研究矫治过程中及矫治后的牙、颌、颅面形态结构变化

X线头影测量亦常用千评定矫治过程中牙、颌、颅面形态结构发生的 变化，从而了解矫治器与矫治方法的作用机制、矫治效果以及矫治后的稳定及复发情况。

（五）正颌外科的诊断和矫治设计

对需要进行正畸－正颌联合治疗的严重颅、颌、面畸形患者，进行颅、颌、面软硬组织的X线头影测量分析， 根据畸形的主要机制， 可确定手术的部位、方法及所需移动或切除颌骨的址。同时应用X 线头影描记图进行剪裁，模拟拼对手术后的牙颌位置，得出术后牙、颌、颅面关系的面型预测图，为正颌外科手术提供充分的根据，从而提高其诊断及治疗水平。

（六）其他应用

X线头影测量也可用千研究下颌运动， 发音时的脖功能以及息止栓间隙等方面的功能分析，也有用于下颌由息止位至咬合时颊突、颌位等位置运动轨迹的研究。此外，X线头影测量还可用千观察上气道各个部分的形态，对千研究阻塞性睡眠呼吸暂停低通气综合征(OS AHS)的病因机制、评价治疗效果具有重要的临床意义。